质谱分析方法和质谱分析装置
公开
摘要
通过源自试样成分的前体离子与非活性气体分子的碰撞而使该前体离子解离并生成产物离子，通过根据质荷比对该产物离子进行分离并检测而获取第一产物离子谱数据，通过前述前体离子与氢自由基的反应而使该前体离子解离并生成产物离子，通过根据质荷比对该产物离子进行分离并检测而获取第二产物离子谱数据，抽取在前述第一产物离子谱数据和前述第二产物离子谱数据中具有规定质量差的产物离子的组。
基本信息
专利标题 ：
质谱分析方法和质谱分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114631022A
申请号 ：
CN201980101561.1
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2019-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高桥秀典关谷祯规山内祥圣
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201980101561.1
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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