一种二次离子质谱定量分析方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种固体材料中元素含量的无标样定量分析方法。以往用SIMS方法定量分析固体材料需用消耗性标样、耗资昂贵。本发明将SIMS法与ISS法有机地结合，测得待测样品的ISS深度剖析谱和SIMS谱，经计算即可得到精度较高的定量分析结果。本发明既利用了ISS方法能定量的特点又保留了SIMS方法高精度的优点，首创了SIMS无标样定量分析的方法。
基本信息
专利标题 ：
一种二次离子质谱定量分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1060532A
申请号 ：
CN91107523.2
公开（公告）日 ：
1992-04-22
申请日 ：
1991-11-06
授权号 ：
CN1030231C
授权日 ：
1995-11-08
发明人 ：
宋玲根张永夏宗祥福
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
200433上海市邯郸路220号
代理机构 ：
复旦大学专利事务所
代理人 ：
王福新
优先权 ：
CN91107523.2
主分类号 ：
G01N23/22
IPC分类号 ：
G01N23/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
1996-12-18 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-11-08 ：
授权
1992-04-22 ：
公开
1992-04-01 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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