使用同质测试模式的传感器对准
授权
摘要
本公开的实施例涉及使用同质测试模式的传感器对准。对准设备可以获取一组模数转换器(ADC)信号，其由以同质测试模式操作的角度传感器提供。该一组ADC信号可以与目标磁体相对于角度传感器的旋转相关联。对准设备可以基于该一组ADC信号来标识最大ADC信号值。该对准设备可以由该对准设备基于最大ADC信号值，选择性地定位，由角度传感器或目标磁体中的至少一项。
基本信息
专利标题 ：
使用同质测试模式的传感器对准
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111426264A
申请号 ：
CN202010021700.4
公开（公告）日 ：
2020-07-17
申请日 ：
2020-01-09
授权号 ：
CN111426264B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
J·詹希特H·科克
申请人 ：
英飞凌科技股份有限公司
申请人地址 ：
德国诺伊比贝尔格
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
黄倩
优先权 ：
CN202010021700.4
主分类号 ：
G01B7/30
IPC分类号 ：
G01B7/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/30
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-08-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/30
申请日 : 20200109
申请日 : 20200109
2020-07-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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