使用同质测试模式的传感器对准
授权
摘要

本公开的实施例涉及使用同质测试模式的传感器对准。对准设备可以获取一组模数转换器(ADC)信号,其由以同质测试模式操作的角度传感器提供。该一组ADC信号可以与目标磁体相对于角度传感器的旋转相关联。对准设备可以基于该一组ADC信号来标识最大ADC信号值。该对准设备可以由该对准设备基于最大ADC信号值,选择性地定位,由角度传感器或目标磁体中的至少一项。

基本信息
专利标题 :
使用同质测试模式的传感器对准
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111426264A
申请号 :
CN202010021700.4
公开(公告)日 :
2020-07-17
申请日 :
2020-01-09
授权号 :
CN111426264B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
J·詹希特H·科克
申请人 :
英飞凌科技股份有限公司
申请人地址 :
德国诺伊比贝尔格
代理机构 :
北京市金杜律师事务所
代理人 :
黄倩
优先权 :
CN202010021700.4
主分类号 :
G01B7/30
IPC分类号 :
G01B7/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/30
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-10 :
授权
2020-08-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/30
申请日 : 20200109
2020-07-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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