电光强度调制器高频半波电压参数的测量系统与方法
授权
摘要
本发明公开了一种电光强度调制器高频半波电压参数的测量系统及方法，包括采用微波信号源、高频光电探测器、频谱仪、5:95保偏耦合器、直流偏置电压控制电路、偏振控制器、激光光源；拟合光电探测器输出射频功率相对于电光调制器输入射频功率值的对应曲线，通过曲线的非线性拐点计算出电光强度调制器在该高频调制下的半波电压。本发明光路结构简单，易于搭建，能够准确测量任意频率点下的半波电压。
基本信息
专利标题 ：
电光强度调制器高频半波电压参数的测量系统与方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111342892A
申请号 ：
CN202010159681.1
公开（公告）日 ：
2020-06-26
申请日 ：
2020-03-10
授权号 ：
CN111342892B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
杨作运曾维胜
申请人 ：
苏州康冠光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区东南大道788号1幢
代理机构 ：
常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
滕诣迪
优先权 ：
CN202010159681.1
主分类号 ：
H04B10/077
IPC分类号 ：
H04B10/077 H04B10/50 H04B10/54
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-07-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/077
申请日 : 20200310
申请日 : 20200310
2020-06-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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