压力传感器的性能测试方法、装置以及存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种压力传感器的性能测试方法、装置以及存储介质，其中，所述压力传感器的性能测试方法通过在第一预设温度下，向待测压力传感器施加第一预设压力值的压力冲击；获取所述待测压力传感器的性能参数；若所述性能参数满足预设条件，则在所述第一预设温度下，对所述待测压力传感器进行压力测试，以得到测试结果；根据所述测试结果确定所述待测压力传感器的性能信息，这样，通过向待测压力传感器施加第一预设压力值的压力冲击以有效地筛选出不良的压力传感器，避免因压力传感器不良导致在压力测试不准确，此测试方法流程逻辑简单、测试速度快且不影响生产效率。
基本信息
专利标题 ：
压力传感器的性能测试方法、装置以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111678641A
申请号 ：
CN202010465051.7
公开（公告）日 ：
2020-09-18
申请日 ：
2020-05-26
授权号 ：
CN111678641B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
姜琳琳孙振国
申请人 ：
荣成歌尔电子科技有限公司
申请人地址 ：
山东省威海市荣成市兴业路1号
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
梁馨怡
优先权 ：
CN202010465051.7
主分类号 ：
G01L27/00
IPC分类号 ：
G01L27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L27/00
用于测量流体压力的仪表的检测或校准
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-10-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01L 27/00
申请日 : 20200526
申请日 : 20200526
2020-09-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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