一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统

授权

摘要

本申请实施例提供一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统，所述方法包括以下步骤：生成下行毫米波信号，叠加信道模型对应的衰落特征，选取测试探头，使得所述测试探头构建与所述信道模型相同的角度功率谱，发送给毫米波终端；所述毫米波终端接收信号，返回上行毫米波信号；叠加所述信道模型对应的衰落特征，进行分析，得到所述毫米波终端在所述信道模型条件下的性能参数；更换测试信道模型，重复进行测试。本申请还提供了一个适用于以上方法的装置。与传统多探头空口测试方法和系统比较，本申请具有上下行互易、用少量探头实现多模型多场景性能测试的有益效果。

基本信息

专利标题：

一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111884734A

申请号：

CN202010682118.2

公开（公告）日：

2020-11-03

申请日：

2020-07-15

授权号：

CN111884734B

授权日：

2022-05-24

发明人：

魏贵明乔尚兵张翔李雷郭宇航王飞龙刘晓龙吴翔张宇潘冲任宇鑫徐菲

申请人：

中国信息通信研究院

申请人地址：

北京市海淀区花园北路52号

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司

代理人：

南霆

优先权：

CN202010682118.2

主分类号：

H04B17/15

IPC分类号：

H04B17/15 H04B17/29 H04B17/00