光电性能测试系统
授权
摘要

本实用新型公开光电性能测试系统,包括测试箱,以及依次同轴安装的测试组件,测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口,所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜,测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处,所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处,所述复眼透镜安装在光线出口处,光线依次通过复眼透镜、被测件、测试组件。本实用新型的有益效果:光源组件能够拆卸的连接在测试箱上,以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装,可以根据不同需求更换光源和测试组件,且利用复眼透镜的特点,其光能利用率高、结构简单等优势,将其与大功率光源搭配使用,具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。

基本信息
专利标题 :
光电性能测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022334086.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-19
授权号 :
CN213715382U
授权日 :
2021-07-16
发明人 :
王茁詹丽华王继军王昊洋黄玉梅
申请人 :
合肥濯新光电科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新大道425号安徽省科技成果转化示范基地A幢202室
代理机构 :
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杜丹丹
优先权 :
CN202022334086.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01M11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-07-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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