闪烁体的性能测试系统

授权

摘要

本申请公开了一种闪烁体的性能测试系统，所述系统包括第一探头，第一探头包括第一闪烁体探头和第二闪烁体探头，且第一闪烁体探头放置于第一层，第二闪烁体探头放置于第二层，第一层与第二层相互平行；至少一个测试通道，至少一个测试通道之间相互平行，且均位于第一层和所述第二层之间，每个测试通道用于放置被测试闪烁体，每个测试通道的一端分别设置有一个光电倍增管；数据采集模块，第一闪烁体探头、第二闪烁体探头和每个测试通道分别设置一个数据采集模块，用于将信号进行处理并传输至计算机。本公开的测试系统结构简单，无需放射源，安全稳定，实现了多块闪烁体的批量测试，提高了测试效率。

基本信息

专利标题：

闪烁体的性能测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021565827.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-31

授权号：

CN212808638U

授权日：

2021-03-26

发明人：

侯超黄晰燕盛祥东王亚平吕洪奎刘佳赵静

申请人：

中国科学院高能物理研究所

申请人地址：

北京市石景山区玉泉路19号（乙）院

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

郭栋梁

优先权：

CN202021565827.4

主分类号：

G01T7/00

IPC分类号：

G01T7/00