闪烁晶体测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了闪烁晶体测试装置,包括基板,基板的顶部固定连接有测试仪体,基板的顶部固定连接有U型架,U型架的内壁开设有滑槽,U型架的内壁设有支撑板,支撑板的外壁固定连接有滑块,且滑块滑动连接在滑槽的内部,滑块的顶部固定连接有步进电机。本实用新型通过将晶体放置在放置块与外圈罩之间的放置槽内,通过放置块与外圈罩之间的多组隔板块,便于使用者放置多组晶体进行测试,通过在放置块的内部设置了凹槽,在凹槽的内部设置了第一弹簧,第一弹簧的一端固定连接有第一卡接块,通过第一弹簧抵压第一卡接块,使得第一卡接块与第一卡槽进行活动卡接,避免晶体在测试过程中放置块整体晃动,影响测试数据。

基本信息
专利标题 :
闪烁晶体测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021447717.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-22
授权号 :
CN212693642U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
李国铭李俊谕刘冰边建盟张泽森程豪华
申请人 :
三河晶丽方达科技有限公司
申请人地址 :
河北省廊坊市三河市燕郊开发区迎宾北路创业大厦B235室
代理机构 :
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
姚朝权
优先权 :
CN202021447717.8
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01T1/202  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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