闪烁体余辉测试系统、方法、装置和电子设备
公开
摘要
本申请涉及一种闪烁体余辉测试系统、方法、装置和电子设备，其中，该系统包括：机架，可旋转设置，所述机架中间形成检测通道；X射线源和闪烁体探测器，固定于所述机架上并沿所述机架的旋转轴对称设置，所述闪烁体探测器用于检测所述X射线源发出的X射线信号；X射线屏蔽块，设置于所述检测通道内；所述机架旋转时可带动所述X射线源和所述闪烁体探测器围绕所述X射线屏蔽块相对转动，使所述X射线屏蔽块对X射线照射所述闪烁体探测器的待测区域进行周期性的截断控制。通过本申请，降低了测试成本，提高了余辉测试精度。
基本信息
专利标题 ：
闪烁体余辉测试系统、方法、装置和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114296124A
申请号 ：
CN202111661130.6
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
贾历平
申请人 ：
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
范丽霞
优先权 ：
CN202111661130.6
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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