一种闪烁体余辉测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种闪烁体余辉测量方法，该方法采集射线源出束狭缝被快门遮挡前后的闪烁体的信号数据作为采样数据，根据公式计算出闪烁体开始衰减的时刻t0，从采样数据中获取t0时刻的闪烁体响应值Vt0，并获取自t0时刻开始衰减预设时间后的t1时刻的闪烁体响应值Vt1，然后以一采样通道中t1时刻为原点，向前取M个、向后取N个单位时间的采样数据，使用最小二乘法进行拟合，得到拟合函数f(x)，然后基于拟合函数f(x)计算出t1时刻的闪烁体响应拟合值Vt1’=f（M+1），并计算衰减比率Vt1’/Vt0。本发明中，响应值以拟合值为准，而不是实际测量值为准，可以很好地避开随机干扰的影响，提高闪烁体余辉测量的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种闪烁体余辉测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545488A
申请号 ：
CN202210443207.0
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-04-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
葛磊董自勇成玉磊
申请人 ：
江苏尚飞光电科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市苏锡通产业园竹松路99号A区10号楼一、二层
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘星
优先权 ：
CN202210443207.0
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 7/00
申请日 : 20220426
申请日 : 20220426
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
