二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及...
授权
摘要
本发明公开一种二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有读取摄像区域的一部分的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个测量区域的部分区域对应的一部分设置于摄像区域；控制部，进行通过将所设置的一部分的数量作为摄像次数，使二维成像元件使用部分读取功能，多次摄像测量对象物，获取与多个一部分分别对应的多个部分区域的测光量；以及计算部，针对多个部分区域中的每一个，执行基于所获取的部分区域的测光量，计算部分区域所包含的至少两个测量区域的闪烁量这一处理。
基本信息
专利标题 ：
二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111164407A
申请号 ：
CN201880063611.7
公开（公告）日 ：
2020-05-15
申请日 ：
2018-09-10
授权号 ：
CN111164407B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
増田敏
申请人 ：
柯尼卡美能达株式会社
申请人地址 ：
日本国东京都千代田区丸之内2-7-2
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
张雪梅
优先权 ：
CN201880063611.7
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01J1/42 G01J1/44 G02F1/13 G09F9/00 H04N5/235
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2020-06-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20180910
申请日 : 20180910
2020-05-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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