一种闪烁体余辉精确测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种闪烁体余辉精确测量装置，解决现有余辉测试装置存在余辉时间测量精度较低的问题。装置包括X射线屏蔽壳体、X射线发生机构、测试屏蔽壳体、探测器、时间处理单元；X射线发生机构包括光源、真空壳体、输入窗、光电阴极、聚焦极和阳极靶及光源控制电路，光源控制电路控制光源通断及向时间处理单元发送起始信号；光源外侧设有隔离密封套筒；真空壳体侧壁和X射线屏蔽壳体之间设X射线输出窗口；X射线屏蔽壳体、隔离密封套筒、真空壳体、X射线输出窗口形成腔体内充有绝缘散热介质；探测器设在测试屏蔽壳体内，用于向时间处理单元发送终止信号和获得待测闪烁体余辉的强度信息，时间处理单元用于获得待测闪烁体的余辉时间信息。
基本信息
专利标题 ：
一种闪烁体余辉精确测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021865090.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN212569168U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
刘永安盛立志强鹏飞苏桐刘哲田进寿赵宝升
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
董娜
优先权 ：
CN202021865090.8
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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