一种磁流变抛光设备的精度标定装置及方法
授权
摘要
本发明公开了一种磁流变抛光设备的精度标定装置及方法，可以实现自动化快速的标定过程，确保磁流变抛光设备加工各类光学工件表面时，抛光间隙保持在允许的误差范围内，进而有效控制去除函数，减少或消除加工后面形残差机械臂轨迹精度不足引入的低频、中频等误差，提高了基于机械臂的磁流变抛光设备的加工精度。
基本信息
专利标题 ：
一种磁流变抛光设备的精度标定装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111805427A
申请号 ：
CN202010704882.5
公开（公告）日 ：
2020-10-23
申请日 ：
2020-07-21
授权号 ：
CN111805427B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
李龙响李兴昶艾博薛栋林张学军
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹君君
优先权 ：
CN202010704882.5
主分类号 ：
B24B49/00
IPC分类号 ：
B24B49/00 B24B1/00 B24B13/00 B24B51/00
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B24
磨削；抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺（用电蚀入B23H；磨料或有关喷射入B24C；电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00；磨具磨损表面的修理或调节；磨削，抛光剂或研磨剂的进给
B24B49/00
用于控制磨具或工件进给运动的测量或校准装置；指示或测量装置的布置，如用于指示磨削加工开始的
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-11-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 49/00
申请日 : 20200721
申请日 : 20200721
2020-10-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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