一种基于激光足印先验坐标的星载激光测高仪在轨标定方法
授权
摘要
本发明涉及一种基于激光足印先验坐标的星载激光测高仪在轨标定方法,以星载激光测高仪和卫星平台的观测参数及激光足印的先验坐标为输入,以激光指向矢量的天顶角和方位角以及激光测距值的系统误差为变量,构建激光足印的距离偏移量模型,并以多个距离偏移量的平方和最小化为原则,将距离偏移量平方和对各系统误差变量求一阶偏导数以建立误差方程组,通过对误差方程组的联立解算,实现激光指向天顶角和方位角以及激光测距值的系统误差的在轨标定。本方法不仅适用于不具备姿态机动能力的星载激光测高仪的在轨标定,而且能够同时实现激光指向和激光测距的系统误差的标定。
基本信息
专利标题 :
一种基于激光足印先验坐标的星载激光测高仪在轨标定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112013874A
申请号 :
CN202010862834.9
公开(公告)日 :
2020-12-01
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
CN112013874B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
周辉李松马跃田昕杨晋陵
申请人 :
武汉大学
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王琪
优先权 :
CN202010862834.9
主分类号 :
G01C25/00
IPC分类号 :
G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-04-01 :
授权
2020-12-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 25/00
申请日 : 20200825
申请日 : 20200825
2020-12-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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