基于局部放电多信息融合的GIS绝缘子缺陷识别方法及系统
授权
摘要
公开了一种基于局部放电多信息融合的GIS绝缘子缺陷的识别方法，通过检测GIS绝缘子缺陷下局部放电的特高频和超声波等信号，提取多种信息的有效特征，然后融合各信息特征识别缺陷的类型，本发明综合了局部放电的多种信息，可靠性和识别率高。
基本信息
专利标题 ：
基于局部放电多信息融合的GIS绝缘子缺陷识别方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112014700A
申请号 ：
CN202010885616.7
公开（公告）日 ：
2020-12-01
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
CN112014700B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
张晓星伍云健胡国雄
申请人 ：
武汉大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 ：
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
郑勤振
优先权 ：
CN202010885616.7
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-12-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/12
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2020-12-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
