OCT参考臂光程判定调节方法、装置、存储介质及终端
授权
摘要
本发明公开了一种OCT参考臂光程判定调节方法、装置、存储介质及终端，在参考臂光程恒速变化过程中，记录根据实时反馈图像计算出的光程相等程度，再用记录的光程相等程度数据查找运算出最优光程相等位置，通过调节参考臂光程使其与样品臂光程相等；通过抽取层析图像中间若干列与特定正态分布数组乘积后求和，得出的数值就是光程相等程度，该算法具有运算速度快、占用内存少、反映样品图像在整个层析图像指定位置相关程度的特点；只需启动一次光程调节，不需要专业人员就可快速自动地调节好参考臂，便可获得最优干涉的OCT层析图像，减少了相关使用人员的操作难度。
基本信息
专利标题 ：
OCT参考臂光程判定调节方法、装置、存储介质及终端
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112014354A
申请号 ：
CN202010938911.4
公开（公告）日 ：
2020-12-01
申请日 ：
2020-09-09
授权号 ：
CN112014354B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
叶剑锋孔冠岳赵晖谢会开
申请人 ：
佛山光微科技有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇南海软件科技园信息大道（研发楼B栋）四层401之二
代理机构 ：
佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈志超
优先权 ：
CN202010938911.4
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01M11/02 A61B5/00 A61B3/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-12-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/45
申请日 : 20200909
申请日 : 20200909
2020-12-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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