一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形数据处理方法
授权
摘要
本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统。
基本信息
专利标题 ：
一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形数据处理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112162150A
申请号 ：
CN202010943412.4
公开（公告）日 ：
2021-01-01
申请日 ：
2020-09-09
授权号 ：
CN112162150B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
陈浙泊潘凌锋郭彬陈一信林建宇余建安陈镇元叶雪旺颜文俊林斌吴荻苇
申请人 ：
浙江大学台州研究院
申请人地址 ：
浙江省台州市市府大道西段618号
代理机构 ：
杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
董世博
优先权 ：
CN202010943412.4
主分类号 ：
G01R23/02
IPC分类号 ：
G01R23/02 G01R29/027 G01R29/033
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/02
频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-01-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 23/02
申请日 : 20200909
申请日 : 20200909
2021-01-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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