一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统,所述方法包括:将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面,并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面;所述被测对象还具有第三表面;对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像;分别接收所述第一表面的第一辐射亮度,所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度;根据所述第一辐射亮度,第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量,最终可以实时监测被测对象的真实温度。

基本信息
专利标题 :
一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353968A
申请号 :
CN202011059644.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭靖孙红胜王加朋邱超杜继东张玉国
申请人 :
北京振兴计量测试研究所
申请人地址 :
北京市丰台区云岗北区西里1号院30号楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011059644.X
主分类号 :
G01J5/80
IPC分类号 :
G01J5/80  G01J5/90  G01J5/53  
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/80
申请日 : 20200930
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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