图像测量装置的校准方法
授权
摘要
本发明包括提供具有平坦的反射表面的校准工件作为工件并将反射表面布置成与标准光轴平行并且与图像捕获元件的像素阵列方向正交或平行的准备步骤；以标准光轴为中心旋转棱镜的旋转步骤；检测在棱镜的多个旋转位置中的每一个处由图像捕获元件捕获的图像的亮度的亮度检测步骤；以及在由亮度检测步骤检测到的亮度最大的旋转位置处对准棱镜的定位步骤。
基本信息
专利标题 ：
图像测量装置的校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109682297A
申请号 ：
CN201811213595.3
公开（公告）日 ：
2019-04-26
申请日 ：
2018-10-18
授权号 ：
CN109682297B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
高滨康弘
申请人 ：
株式会社三丰
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
葛飞
优先权 ：
CN201811213595.3
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-09-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20181018
申请日 : 20181018
2019-04-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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