获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、介质
公开
摘要
本申请提供了一种获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，获取时序老化敏感性信息的方法包括：获取第一预设条件；根据数据库获取第一预设条件对应的不同类型的标准单元的第一时序老化敏感性信息；其中，第一时序老化敏感性信息包括：表征标准单元老化对标准单元所产生的影响的第一时延影响参数，以及表征标准单元老化对后级互连线和后级标准单元所产生的影响的第二时延影响参数。
基本信息
专利标题 ：
获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114330203A
申请号 ：
CN202011070016.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
魏琦武辰飞黎嘉勇欧阳可青
申请人 ：
深圳市中兴微电子技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜春咸
优先权 ：
CN202011070016.1
主分类号 ：
G06F30/392
IPC分类号 ：
G06F30/392
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/392
平面规划或布局，例如,分区或放置
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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