一种用于外场目标特性校准的装置及光学系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种用于外场目标特性校准的装置及光学系统，装置包括：光学调制器件、主离轴光学元件以及至少一个次光学元件；光学调制器件用于将标准红外辐射源发出的红外光进行调制；至少一个次光学元件用于将调制后的红外光进行折转；主离轴光学元件用于将折转后的红外光反射形成平行红外光；该系统能够实现光学目标的模拟，各个光学元件的设计能够确保高低温环境下的低变形量，适用的温度范围宽，适用于外场校准，确保良好像质的要求，校准准确性高，支撑结构的设计，能够保证各部分的结构和位置关系在环境温度变化时低变形量，保证面型精度，整体结构轻型化设计，减小系统体积与重量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于外场目标特性校准的装置及光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383738A
申请号 ：
CN202011128753.2
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曹静张玉国李超吴柯萱刘保炜孙广尉付宇杜继东
申请人 ：
中国兵器工业试验测试研究院;北京振兴计量测试研究所
申请人地址 ：
陕西省华阴市夫水镇北
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011128753.2
主分类号 ：
G01J5/53
IPC分类号 ：
G01J5/53
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/53
申请日 : 20201022
申请日 : 20201022
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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