一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法
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摘要

本发明的目的在于提供一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法,具体为:首先利用高频涡流信号对奥氏体管壁进行测量,确定管道外壁氧化层厚度,再绘制出样管外壁氧化层厚度与高频涡流检测信号幅值的线性关系图;然后以高频测量结果为基础,利用低频涡流对样管进行测量,绘制不同氧化层厚度的情况下,腐蚀层厚度与涡流检测信号幅值的线性关系图;最后通过低频涡流条件下的测量值与标定曲线之间的函数关系,解出所测量管壁具体的腐蚀层厚度值。本发明利用高频、低频两种涡流信号进行奥氏体管检测,通过信号处理、计算即可得出内壁腐蚀层的厚度。该方法简单高效,适用范围更广。

基本信息
专利标题 :
一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112378329A
申请号 :
CN202011131869.1
公开(公告)日 :
2021-02-19
申请日 :
2020-10-21
授权号 :
CN112378329B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
蔡桂喜张双楠李宏伟张博李建奎张宝俊杨亮刘芳
申请人 :
中国科学院金属研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 :
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 :
张晨
优先权 :
CN202011131869.1
主分类号 :
G01B7/06
IPC分类号 :
G01B7/06  G01N27/90  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B7/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-12 :
授权
2021-03-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/06
申请日 : 20201021
2021-02-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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