基于圆柱体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于圆柱体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法,它将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的圆柱体,其中颗粒在圆柱体内随机均匀分布。将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的圆柱体,其中颗粒在圆柱体内随机均匀分布。圆柱体长度通过人为设定,圆柱体直径根据颗粒半径R以及颗粒填充率α确定。通过保证均匀化前中子在随机介质区各子区发生的首次碰撞概率与均匀化后的相应概率相等,开展等效均匀化后随机介质区总截面与各子区空间自屏因子的计算,由空间自屏因子修正各子区截面,实现双重非均匀系统中子学计算。

基本信息
专利标题 :
基于圆柱体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114491906A
申请号 :
CN202011166733.4
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-10-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
彭星杰蔡云赵文博娄磊刘琨吴屈于颖锐李庆
申请人 :
中国核动力研究设计院
申请人地址 :
四川省成都市双流区协和街道办事处长顺大道1段328号
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
孙成林
优先权 :
CN202011166733.4
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F111/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20201027
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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