等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备,该方法包括:利用蒙特卡罗方法进行随机搜索,得到目标垂直剖面上每一样品的一组热史曲线;针对每组热史曲线,进行筛选、采样、取均值,得到一条目标热史曲线;计算得到各目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的第一模拟年龄,以及,计算得到各目标热史曲线对应于第二低温年代学方法的第二模拟年龄;针对每一目标热史曲线,根据第一模拟年龄,第二模拟年龄,以及年龄测试值,计算得到所述目标热史曲线的等效测试年龄。通过将不同低温年代学方法的测试值及模拟值应用于同一热史曲线集合中,计算得到测试等效值,降低了实验成本。
基本信息
专利标题 :
等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114528521A
申请号 :
CN202210269235.5
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-03-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
丁汝鑫
申请人 :
中山大学
申请人地址 :
广东省广州市新港西路135号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
陈嘉雯
优先权 :
CN202210269235.5
主分类号 :
G06F17/10
IPC分类号 :
G06F17/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F17/00
特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法
G06F17/10
复杂数学运算的
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/10
申请日 : 20220318
申请日 : 20220318
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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