计算机组件测试方法及测试系统

专利权的终止

摘要

一种计算机组件测试方法及测试系统，通过控制计算机内部的中央处理器温度，以增加中央处理器周边计算机组件的测试压力进而对计算机组件进行测试，通过设置计算机组件的测试温度波动范围来进行计算机组件的测试温度的设置，当实时温度等于测试温度时便通过测试程序对计算机组件进行测试。本发明的测试系统可提前装入雏形机内，适宜进行大规模测试，而且本发明的测试方法自动化程度高，并可在特定温度下对待测组件进行测试，为了解待测计算机组件在不同温度下的表现创造条件。

基本信息

专利标题：

计算机组件测试方法及测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1987503A

申请号：

CN200510132711.5

公开（公告）日：

2007-06-27

申请日：

2005-12-20

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

胡幸陈玄同刘文涵

申请人：

英业达股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台北市

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司

代理人：

梁挥

优先权：

CN200510132711.5

主分类号：

G01R31/317

IPC分类号：

G01R31/317 G06F11/22 G05D23/19