相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取K空间数据;K空间数据包括奇数行回波数据和偶数行回波数据;利用K空间数据的奇数行回波数据组成第一K空间数据,利用K空间数据的偶数行回波数据组成第二K空间数据;分别重建第一K空间数据、第二K空间数据,形成第一重建图像和第二重建图像;根据第一重建图像和第二重建图像,确定奇数行回波数据和偶数行回波数据的相对相位差;根据相对相位差,校正K空间数据的奇数行回波数据或校正K空间数据的偶数行回波数据,得到校正后的K空间数据;重建校正后的K空间数据,得到检测对象的磁共振图像。采用本方法能够提高K空间的校正效率。
基本信息
专利标题 :
相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487963A
申请号 :
CN202011166783.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-10-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
翟人宽
申请人 :
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 :
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 :
赵文静
优先权 :
CN202011166783.2
主分类号 :
G01R33/565
IPC分类号 :
G01R33/565
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/44
采用核磁共振
G01R33/48
核磁共振图像系统
G01R33/54
信号处理系统,如使用脉冲序列
G01R33/56
图像增强或修正,如减法或平均技术
G01R33/565
图像畸变修正,如由于磁场不均匀性
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/565
申请日 : 20201027
申请日 : 20201027
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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