相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法通过磁共振预扫描目标对象,获取多个回波数据,并根据多个回波数据,确定参考回波数据和待校正回波数据,再根据参考回波数据和待校正回波数据,确定校正相位差,然后使用校正相位差对待校正回波数据进行相位校正,得到与待校正回波数据对应的校正后的回波数据。上述方法以参考回波数据为准进行偏差校正,保留了不同通道之间的相位信息、回波数据所包含的水脂之间的相位信息,从而为后期基于这些重要相位信息重建磁共振图像提供了可靠的数据依据。

基本信息
专利标题 :
相位校正方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114442017A
申请号 :
CN202011217197.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
翟人宽
申请人 :
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 :
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 :
赵文静
优先权 :
CN202011217197.6
主分类号 :
G01R33/54
IPC分类号 :
G01R33/54  A61B5/055  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/44
采用核磁共振
G01R33/48
核磁共振图像系统
G01R33/54
信号处理系统,如使用脉冲序列
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/54
申请日 : 20201104
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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