电子元件取像方法及使用此方法的电容器极性判定方法
实质审查的生效
摘要
一种电子元件取像方法，适用于取得一电路板上的一电子元件的图像，包含：取得关联于该电路板的一实体电路板图像，以一转换矩阵将关联于该电路板的一电路板设计图文件的一预设元件坐标转换为该实体电路板图像的一实体元件坐标，其中该预设元件坐标为该电子元件在该电路板设计图文件之中的坐标，于该实体电路板图像中框出包含该实体元件坐标的一取像范围，以及将对应于该取像范围的一实体元件图像储存于一存储元件中，其中该实体元件图像为该取像范围在该实体电路板图像所框出的部分。
基本信息
专利标题 ：
电子元件取像方法及使用此方法的电容器极性判定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114428082A
申请号 ：
CN202011178579.2
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
范纲伦孟宪明孙武雄廖祝湘张基霖罗际宇
申请人 ：
技嘉科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市新店区宝强路6号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
张燕华
优先权 ：
CN202011178579.2
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/956
申请日 : 20201029
申请日 : 20201029
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
