一种AlGaInP四元LED芯片生产机台的发光亮度校准方...
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种AlGaInP四元LED芯片生产机台的发光亮度的校准方法，包括步骤：1)制作标准样片，用标准机台测试得发光亮度A；2)用生产机台测试标准样片得发光亮度B，将发光亮度B与发光亮度A进行均值比较，对生产机台进行Gain值校准；3)将生产机台的Gain值设为校正后值，用生产机台测试标准样片得发光亮度C，发光亮度C与发光亮度A一一比对，若发光亮度C与发光亮度A差异率的平均值≤1％，不需校准，若＞1％，则进行下一步；4)设生产机台Gain值为1，Offset为0，测试标准样片得发光亮度D，发光亮度D为x轴，发光亮度A为y轴，线性拟合得公式y＝ax+b，a为Gain值，b为Offset值。
基本信息
专利标题 ：
一种AlGaInP四元LED芯片生产机台的发光亮度校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527362A
申请号 ：
CN202011184628.3
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑军郑波李琳琳闫宝华王成新
申请人 ：
山东浪潮华光光电子股份有限公司
申请人地址 ：
山东省潍坊市高新区金马路9号
代理机构 ：
济南金迪知识产权代理有限公司
代理人 ：
王素平
优先权 ：
CN202011184628.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20201030
申请日 : 20201030
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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