基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法
实质审查的生效
摘要

基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法,通过模拟电流采样系统处于N种不同温度和M种不同电流的情况来产生N×M种对应条件下的校准码,首先设置N个不同的温度检测值,然后分别获取电流采样系统处于每个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码;随后检测电流采样系统的实时温度情况和输入电流情况,并根据检测结果选择对应温度情况和对应输入电流情况的校准码用于调节可调电阻的电阻值,采样进行调节后的可调电阻上的电压就获得了校准后的采样电流信息。本发明能够使得电流采样系数不受温度系数和电流系数的影响,保证了实时采样的高效性和准确性,具有适用范围广和适合实际应用的特点。

基本信息
专利标题 :
基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441843A
申请号 :
CN202011189820.1
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
耿翔王佳煜
申请人 :
上海南芯半导体科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区晨晖路1000号214室
代理机构 :
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
葛启函
优先权 :
CN202011189820.1
主分类号 :
G01R19/25
IPC分类号 :
G01R19/25  G01R19/32  G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/25
采用数字测量技术
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 19/25
申请日 : 20201030
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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