基于电光调制技术的偏振调制荧光差分显微成像方法和装置
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摘要

本发明公开一种基于电光调制技术的偏振调制荧光差分显微成像装置和方法,包括产生激发光束的照明系统,收集样品发出荧光信号的探测系统,以及用于控制和信号处理的计算机,所述照明系统包括依次设置的:激光器,用于发出激光光束;电光调制模块,用于调制线偏振光在两个不同偏振状态间快速转换;涡旋半波片,用于将线偏振光分别调制为径向偏振光和角向偏振光,经物镜聚焦后形成照明样品的实心光斑和空心光斑。本发明实现了实心光斑和空心光斑的快速转换,在很大程度上提升了荧光差分显微成像系统的成像速度。

基本信息
专利标题 :
基于电光调制技术的偏振调制荧光差分显微成像方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112710641A
申请号 :
CN202011196817.2
公开(公告)日 :
2021-04-27
申请日 :
2020-10-31
授权号 :
CN112710641B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
匡翠方刘旭刘少聪董婉潔
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 :
米志鹏
优先权 :
CN202011196817.2
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01J3/44  G01J3/28  G02B21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-04-01 :
授权
2021-05-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20201031
2021-04-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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