基于偏振复用的实时三维荧光差分超分辨成像方法和装置
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摘要

本发明公开一种基于偏振复用的实时三维荧光差分超分辨成像方法和装置,该方法将入射激光分成三路,光束二和光束三的光偏振态相同,光束一的光偏振态与光束二、光束三的光偏振态垂直;光束先分束,后合束,并投射到样品上;光束一在样品某点上形成的三维光场分布反射后再经显微物镜、光束整形元件、扫描镜、偏振元件在探测器一上形成物点的共焦像;光束二和光束三在物点上形成的三维光场分布反射后再经显微物镜、光束整形元件、扫描镜、偏振元件在探测器二上同时、并行形成物点的负共焦像;将共焦像减去附带一定权重的负共焦像即为超分辨点像,即完成一次扫描即可获得某一深度的二维图像;通过对样品不同深度进行扫描,即可建立三维超分辨图像。

基本信息
专利标题 :
基于偏振复用的实时三维荧光差分超分辨成像方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112326609A
申请号 :
CN202011153057.7
公开(公告)日 :
2021-02-05
申请日 :
2020-10-16
授权号 :
CN112326609B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
李国强朱大钊
申请人 :
之江实验室
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区文一西路1818号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
贾玉霞
优先权 :
CN202011153057.7
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-13 :
授权
2021-02-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20201016
2021-02-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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