一种斩波装置、斩波方法及光纤耦合式太赫兹时域系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及光电技术领域,尤其涉及一种斩波装置、方法及光纤耦合式太赫兹时域系统。所述斩波装置包括:半导体激光器、光学扩束器、硅片、杂散光吸收体;所述半导体激光器和所述光学扩束器同轴;所述光学扩束器与所述杂散光吸收体同轴;所述半导体激光器用于发出激光束,激光束经过光学扩束器扩束后照射在硅片上,所述杂散光吸收体用于吸收反射激光。本发明中,半导体激光器尺寸小,输出激光调控简单;利用所述半导体激光器输出的半导体机关调制硅片,可以实现简易调制、集成度高的目的,硅片对激光响应速度快,反应时间短的特点,实现了快速斩波的目的。而且,利用激光调制硅片对太赫兹波的透过率,缺少旋转装置,因此可以实现震动更小的目的。

基本信息
专利标题 :
一种斩波装置、斩波方法及光纤耦合式太赫兹时域系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114459602A
申请号 :
CN202011242299.3
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2020-11-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘林高小强张铁犁刘晓旭谢阳葛萌刘浩王宗军
申请人 :
北京航天计量测试技术研究所
申请人地址 :
北京市丰台区南大红门路一号
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
蔡丽
优先权 :
CN202011242299.3
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20201109
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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