一种金刚石中自旋缺陷浓度的精确标定方法
授权
摘要
本发明公开一种金刚石中自旋缺陷浓度的精确标定方法，该方法将含有目标缺陷的微粒悬浮在真空腔室中；然后将目标缺陷自旋极化，使宏观微粒表现出磁矩；然后测量微粒在磁场中的进动角加速度，得到总力矩，进而推算有效自旋个数及对应的自旋缺陷浓度。本发明的方法可以实现微粒中缺陷浓度精确测量，并且本发明所使用到的方法可以拓展应用与宏观物体与自旋量子态耦合等复合量子体系研究。
基本信息
专利标题 ：
一种金刚石中自旋缺陷浓度的精确标定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112362683A
申请号 ：
CN202011248889.7
公开（公告）日 ：
2021-02-12
申请日 ：
2020-11-10
授权号 ：
CN112362683B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
李翠红马园园陈志明蒋静李楠胡慧珠
申请人 ：
之江实验室;浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区文一西路1818号人工智能小镇10号楼
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
贾玉霞
优先权 ：
CN202011248889.7
主分类号 ：
G01N24/00
IPC分类号 ：
G01N24/00 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N24/00
利用核磁共振、电子顺磁共振或其他自旋效应来测试或分析材料
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-03-05 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 24/00
申请日 : 20201110
申请日 : 20201110
2021-02-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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