基于电子自旋缺陷的测磁法
实质审查的生效
摘要

一种磁强计(400)包括:基板(402);在基板上的金刚石层,其中金刚石层包括缺陷子层(404),该缺陷子层包括多个晶格点缺陷;微波场发射器(410);光源(408),被配置为发射包括第一波长的光,该第一波长将所述多个晶格点缺陷从基态激发到激发态;光电检测器,被布置为检测从缺陷子层发射的包括第二波长的光致发光,其中第一波长不同于第二波长;以及磁体(414),与缺陷子层相邻布置。

基本信息
专利标题 :
基于电子自旋缺陷的测磁法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114502947A
申请号 :
CN202080069911.3
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-10-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
E.L.罗森费尔德
申请人 :
X开发有限责任公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
金玉洁
优先权 :
CN202080069911.3
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N24/00  G01N24/10  G01R33/032  G01R33/24  G01R33/32  G01R33/60  A61B5/243  A61B5/0507  A61B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20201001
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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