包括自旋缺陷的扫描传感器
授权
摘要
一种传感器装置，该传感器装置包括载体(10)、力反馈传感器(20)和包括自旋缺陷(46)的探头(40)，该探头经由手柄结构件(30)直接或间接地连接至力反馈传感器。为了以有效且稳健的方式将自旋缺陷耦合至微波场，传感器装置包括集成的微波天线(50)，微波天线(50)布置在距自旋缺陷小于500微米的距离处。传感器装置可以构造为独立的可更换盒，其可以容易地安装在扫描探头显微镜的传感器安装部中。
基本信息
专利标题 ：
包括自旋缺陷的扫描传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110462417A
申请号 ：
CN201880018187.4
公开（公告）日 ：
2019-11-15
申请日 ：
2018-03-14
授权号 ：
CN110462417B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
克里斯蒂安·德根延斯·博斯凯文·昌扬·莱茵修斯
申请人 ：
苏黎世联邦理工学院
申请人地址 ：
瑞士苏黎世
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄霖
优先权 ：
CN201880018187.4
主分类号 ：
G01R33/32
IPC分类号 ：
G01R33/32 G01N24/10 G01R33/12 G01Q60/52 G01N21/64 B82Y35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/28
G01R33/44到G01R33/64各组中仪器的零部件
G01R33/32
激励或检测系统，例如用射频信号
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2019-12-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/32
申请日 : 20180314
申请日 : 20180314
2019-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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