一种检测方法及检测电路
公开
摘要
本发明公开了一种检测方法及检测电路，涉及电路领域，所述方法包括：在功率场效应管导通时，利用漏源级电压检测电路检测已导通的所述功率场效应管的漏源极电压；利用分压电路，对已导通的所述功率场效应管的漏源极电压进行分压，得到第一分压电压；利用比较电路，比较所述第一分压电压与第一预设参考电压，并根据比较结果确定已导通的所述功率场效应管是否发生过流事件，以便在确定所述功率场效应管发生过流事件时由控制电路控制已导通的所述功率场效应管关断。本发明实施例通过漏源级电压检测电路检测所述功率场效应管导通时的漏源极电压，进而判断是否发生过流事件，检测速度快，能够有效保护所述功率场效应管。
基本信息
专利标题 ：
一种检测方法及检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545178A
申请号 ：
CN202011335030.X
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-11-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李志坚
申请人 ：
中兴通讯股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
代理机构 ：
北京元本知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金海荣
优先权 ：
CN202011335030.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R19/165 G01R1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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