删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质
公开
摘要
本申请公开了一种删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取指纹图像；处理指纹图像得到特征点图像，特征点图像中的特征点包括指纹的断点和/或分叉点；遍历断点和/或分叉点，确定特征点图像中是否包含与指纹的断纹对应的特征点；若包含，删除与指纹的断纹对应的特征点。解决了删除指纹断纹时，确定的指纹断纹位置准确度低，导致正常指纹信息被误删的情况。
基本信息
专利标题 ：
删除指纹断纹特征点的方法、装置、设备及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114612942A
申请号 ：
CN202011344791.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-11-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
雷磊李振刚
申请人 ：
比亚迪半导体股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市大鹏新区葵涌街道延安路1号
代理机构 ：
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张美君
优先权 ：
CN202011344791.1
主分类号 ：
G06V40/12
IPC分类号 ：
G06V40/12
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
