光学偏差识别方法及装置、染色体扫描装置及存储介质
公开
摘要

本申请涉及光学偏差识别方法及装置、染色体扫描装置及存储介质,所述偏差识别方法包括:识别第一视野图像,获取第一参考位置;识别第二视野图像,获取第二参考位置;根据第一参考位置确定第二参考位置在第二视野图像中的目标位置;计算第二参考位置和目标位置的偏差值。比对第一参考位置与目标位置,有利于明确物镜转换后的偏差值,适应每一台光学显微镜的制造误差;有利于提供准确的偏差值,配合样品载物台准确地配合移动样品的位置从而有利于控制物镜转换后的观测视场重合度;有利于简化转换物镜后对于待测样品位置的调整,提升转换精度,从而配合实现自动化的光学检测;有利于简化偏差识别,在此过程中载物装置不移动,也有利于出厂调试。

基本信息
专利标题 :
光学偏差识别方法及装置、染色体扫描装置及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577796A
申请号 :
CN202011380191.0
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐家宏林冲刘剑
申请人 :
深圳市瑞图生物技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道永和路骏丰工业区综合楼B5-1栋B座5层
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
何平
优先权 :
CN202011380191.0
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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