本发明公开了一种过温保护阈值测量装置及其测量方法，该装置包括：基准电压产生单元，用于产生具有恒定温度系数的基准电压；多选一选择开关，用于根据所述控制信号选择输出参考电压和引脚电压的其中之一；以及比较器，在被测芯片的测试模式下，用于基于引脚电压确定预设温度下基准电压的电压值；在被测芯片的正常工作模式下，比较器用于基于参考电压和确定的基准电压确定被测芯片的过温保护阈值。该过温保护阈值测量装置及其测量方法可以在批量生产中测量芯片的过温保护阈值，确保在实际应用中芯片的过温保护阈值能够处于可控的范围内，降低批量芯片的损坏率。