一种接触式微位移检测装置
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摘要

本发明提出了一种接触式微位移检测装置,包括中空的壳体,壳体内横向设有测量杆,测量杆的左端穿出壳体外,测量杆上下两侧从内向外依次设有磁控弹性体、压电片和U型安装槽,两个U型安装槽相背设置,且分别与壳体的上、下内侧壁围成分别用于放置第一永磁体与第二永磁体的空腔,两个压电片均连接有引线,壳体内靠右固设有定向板,测量杆右端穿过定向板自由悬空,壳体右内侧壁上设有垫块;壳体左侧壁和定向板上均设有导向环,测量杆上靠左固定连接有左推板,靠右固定连接有右推板,左推板与左侧壁之间连接有左弹性复位机构,右推板与定向板之间连接有右弹性复位机构。能够准确检测物体产生的微小的位移。

基本信息
专利标题 :
一种接触式微位移检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112683152A
申请号 :
CN202011507815.0
公开(公告)日 :
2021-04-20
申请日 :
2020-12-18
授权号 :
CN112683152B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
居本祥米曾真
申请人 :
重庆理工大学
申请人地址 :
重庆市巴南区红光大道69号
代理机构 :
重庆天成卓越专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
谭小容
优先权 :
CN202011507815.0
主分类号 :
G01B7/02
IPC分类号 :
G01B7/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-05-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/02
申请日 : 20201218
2021-04-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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