本发明公开了一种芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置。该系统包括：功能配置模块，用于配置待测对象的配置信息，配置信息至少包括：测试用例类型，待测对象为芯片或芯片的开发工具；用例筛选模块，用于根据测试用例类型筛选与待测对象对应的测试用例；流程处理模块，用于生成测试流程信息，测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，测试流程属性用于表示是否执行测试流程中的任意一个主流程或任意一个子流程；自动化检测模块，用于使用筛选的测试用例按照测试流程对待测对象进行测试，根据测试流程属性对待测对象进行自动化测试。本发明解决了现有技术中对于FPGA芯片及其开发工具的测试效率较低的技术问题。