光源漂移自动校正原子荧光光谱仪
授权
摘要
光源漂移自动校正原子荧光光谱仪,主控制模块(2)连接到电流供应模块(3)，电流供应模块(3)连接到激发光源(1)，激发光源(1)连接到检测器(4)；激发光源(1)中安装有漂移校正模块(15)，主控制模块(2)中安装控制执行模块(22)，检测器(4)和控制执行模块(22)连接到漂移校正模块(15)。实现对激发光源漂移的自动校正，检测试验数据稳定，试验结果偏差小，测量结果接近真实值。适宜在地质、冶金、石油、生物医学、地球化学、材料和环境科学等各个领域内广泛的应用。仪器结构简单，操作方便，灵敏度高，光谱干扰少。
基本信息
专利标题 ：
光源漂移自动校正原子荧光光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020044854.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-09
授权号 ：
CN211627373U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
叶辉吴华华谢道祥何艳芬
申请人 ：
上海美析仪器有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区奉浦大道1599号第一幢2-56
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
郭春远
优先权 ：
CN202020044854.0
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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