一种光照度计校准装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种光照度计校准装置,包括光照度计校准装置主体、第一挡块、密封块、光照度计校准装置副体、光照度计校准连接口,所述光照度计校准装置主体的顶部设置有密封槽,本实用新型一种光照度计校准装置,光照度计校准装置主体首先通过光照度计校准连接口与需要校准的照度计紧密连接,然后配合所述第一开门与第二开门的作用,方便操作,同时形成一个连接紧密,稳定牢靠的结构体系,为所述光照度计校准装置主体的校准工作提供一个坚实可靠的操作平台,进一步提升光照度计校准装置的密封效果,增加校准的精度,保证照度计的测量精度,可靠高效。

基本信息
专利标题 :
一种光照度计校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020110205.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-18
授权号 :
CN211317515U
授权日 :
2020-08-21
发明人 :
蔡文革余贤春魏树杰
申请人 :
福建华科计量检测有限公司
申请人地址 :
福建省福州市仓山区建新镇金洲北路10号一期厂房(1#楼)三层305室
代理机构 :
北京久维律师事务所
代理人 :
邢江峰
优先权 :
CN202020110205.6
主分类号 :
G01J1/00
IPC分类号 :
G01J1/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
法律状态
2020-08-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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