一种用于紫外分光光度计的反射率测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于紫外分光光度计的反射率测量装置，属于检测辅助工具领域。包括：底座，底座水平设置；上压座，上压座位于底座的竖直上方，上压座与底座可拆卸连接，上压座与底座之间留有用于放置试样的夹缝，上压座的两侧向外延伸有用于放置反光镜的延伸支撑台，上压座的中部还设有水平设置的用于放置反光镜的反光镜放置通孔，上压座上设有用于光线穿过的检测通道，检测通道与夹缝和反光镜放置通孔连通；用于调节反光镜角度的调节部件，调节部件为两个，两个调节部件分别连接在两个延伸支撑台上。本反射率测量装置具有成本低、易拆卸、适用性广以及测量精度高的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种用于紫外分光光度计的反射率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020137737.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-21
授权号 ：
CN211553741U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
王戎戎吕林杨荣华王腾飞董泽刚
申请人 ：
贵州民族大学
申请人地址 ：
贵州省贵阳市花溪区贵州民族大学
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
李昆蔚
优先权 ：
CN202020137737.9
主分类号 ：
G01N21/33
IPC分类号 ：
G01N21/33 G01N21/55 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/33
利用紫外光
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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