一种场强探测系统
授权
摘要
本实用新型涉及场强探测技术领域,公开了一种场强探测系统,即一方面通过对场强计探头的结构设计,可实现空间电场信号在光波信号上的调制目的,并分别得到在x轴、y轴和z轴方向上的光电调制结果,完成三维全向的高性能电磁脉冲场测量,使得在整个探头结构中,无需配置有源供电部分,也可实现无源和长距离探测使用目的,并利于探头小型化设计,减小适用空间需求;另一方面还配置了用于配合无源式场强计探头的场强计主机、频谱仪及计算机,不但可提供光学方法测量电场所需的光载波,还可对带有被测电场信息的光信号进行光功率测量、光电转换以及场强幅度和变化频率的测量,获取测量数据,最终完备了基于光学方法测量电场的场强探测系统。
基本信息
专利标题 :
一种场强探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020180845.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-18
授权号 :
CN211785810U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
孙豹彭勇林海宇张玉志
申请人 :
成都信赛方兴测试技术有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区天全路200号2楼14层03号
代理机构 :
成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人 :
王霞
优先权 :
CN202020180845.4
主分类号 :
G01R29/08
IPC分类号 :
G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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