一种大并测分区测试机构

授权

摘要

本实用新型提出了一种大并测分区测试机构，包括安装板，所述安装板上设有若干个用于测试的测试基座，每个所述测试基座上方均设有压板，所述压板和所述安装板之间设有气缸，所压板固定在所述气缸的活塞杆上，所述气缸固定在所述安装板上，每个所述压板上均设有感应片，每个感应片设有对应设置的感应器，所述感应器固定在所述安装板上。本实用新型所提供的一种大并测分区测试机构，其上设有多个用于测试IC产品的测试基座，能够同时对多个IC产品进行测试，具有结构简单、操作方便，测试效率高的特点。

基本信息

专利标题：

一种大并测分区测试机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020182020.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-02-18

授权号：

CN211826359U

授权日：

2020-10-30

发明人：

梁大明

申请人：

上海中艺自动化系统有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301-642座

代理机构：

上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

丁剑

优先权：

CN202020182020.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04