用于测试设备的分区强制感测系统
实质审查的生效
摘要
本公开涉及用于测试设备的分区强制感测系统。一种用于向在第一DUT节点处的被测设备(DUT)提供信号或从其接收信号的强制感测系统。系统可包括耦合第一强制感测测量装置的第一部分和第二部分的接口，例如参数测量单元。第一强制感测测量装置的第一和第二部分可以使用各自不同的集成电路来提供，例如可以包括不同管芯类型的不同半导体管芯。在第一测试模式下，接口可被配置为从第一强制感测测量装置的第一部分向第二部分通信第一DUT强制信号，而在第二测试模式下，接口可以被配置为将在第一DUT节点处从DUT接收到的DUT感测信息从第一强制感测测量装置的第二部分通信到第一部分。
基本信息
专利标题 ：
用于测试设备的分区强制感测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325150A
申请号 ：
CN202111155621.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·K·辛格C·C·麦可金B·凯里
申请人 ：
美国亚德诺半导体公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
刘倜
优先权 ：
CN202111155621.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20210930
申请日 : 20210930
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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