红外辐射测量装置
授权
摘要
本发明揭示了一种红外辐射测量装置，该红外辐射测量装置包括一壳体及第一与第二热敏元件，所述壳体对应第一与第二热敏元件设有第一腔体与第二腔体，并且第一热敏元件外围设有吸热元件，所述第一热敏元件与吸热元件均设于第一腔体内，并且壳体对应第一热敏元件设有透光窗，外部的红外辐射通过透光窗辐射至吸热元件并传导至第一热敏元件，如此测量外部的红外辐射。
基本信息
专利标题 ：
红外辐射测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020187744.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-20
授权号 ：
CN211651857U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
刘建张治华
申请人 ：
上海芯歌智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园盛荣路88弄盛大天地源创谷1号楼904室
代理机构 ：
上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杜林雪
优先权 ：
CN202020187744.X
主分类号 ：
G01J5/20
IPC分类号 ：
G01J5/20 G01J5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/20
用对辐射敏感的电阻器，热敏电阻器或半导体
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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